厚度测量

厚度测量有许多可能性，包括传输方法，超声波和红外传感器以及光学三角测量原理。

INDIAIR传感器

测量系统由上下传感器组成。后者是磁/涡流间隔系统，其确定到参考板的距离，参考板又是上传感器的一部分。两个传感器之间的片材影响板的顶部和底部之间的距离，从而可以提供原始测量信号。

INDISPECTRO?

测量基于光学层厚度与光波长的比较。入射在透明层上的光在上界面和下界面处部分反射。

INDIRAY?标准X射线传感器<5KV /扩展范围

红外反向散射传感器IREX-RS / CW /XCMONESPLIT?相同点技术

红外传感器通常作为反向散射传感器提供，具体取决于应用，但也可以作为传输传感器的结构。CONESPLIT?SameSpot技术基于**测量方法，用于直接（选择性）在线涂层厚度测量，是BST ProControl**的卖点。

当通过透射方法测量时，发射器和检测器彼此相对安装，待测材料置于其间。辐射被待测材料衰减，衰减取决于待测材料的密度，厚度和成分。

超声波传感器

传感器根据脉冲回波测量方法工作，即发射超声脉冲，由测量对象反射并再次接收。从脉冲的持续时间开始，测量物体的距离被确定为传感器。

激光传感器

传感器基于三角测量方法。这里，聚焦红外光束在待测材料上产生光点，其反射部分由传感器中的PSD / CCD检测器检测。检测器的检测允许***计算到待测材料的距离。

同位素反向散射传感器

同位素反向散射传感器是用于基重测量的非接触式测量方法。基于由待测材料反向散射的放射性辐射部分，确定基重。

基于摄像头的传感器

DELTA MASTER 3传感器使用光学三角测量原理。可以通过将精细的测量线投射到材料上并通过几何超稳定的矩阵CCD相机进行检测来测量表面。测量数据的评估基于数字图像处理的方法。 

SHADEX传感器

非接触式测量原理基于线性扇出激光束的***定义。产品的厚度导致测量范围内的阴影，并且对接收二*管有成比例的影响。距离测量系统补偿传感器和参考辊之间的距离变化，由此在特殊信号处理方法中评估值，并且可以***地确定材料厚度。

PC16S?波

发射传感器PC16S ^? -wave措施的基础重量或厚度flachbahniger材料，并使用用于非接触测量过程非电离，电磁波。这使其成为***和快速测量聚合物基单膜的理想选择。与基于电离辐射的传感器相比，该传感器***了运输，操作和处置所需的国家或国际法规要求。

涂层厚度测量

在涂层厚度测量领域，除红外传感器和传输传感器外，BST-ProControl还提供光学层厚度与光波长的比较。

密度测量

此外，在密度测量领域，非接触式测量方法和用于直接（选择性）在线涂层厚度测量的**方法也是合适的